SJ 50033.112-1996 半导体光电子器件GD3251Y型光电二极管详细规范
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ID： |
B3242EC5723F41E5AA5D6665D07B618B |
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文件大小(MB)： |
0.69 |
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页数： |
9 |
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日期： |
2024-7-27 |
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中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5980 SJ 50033/112-96,千平1导日体从无ヰ由电M子 證仟灶,GD3251Y型光电二极管,详细规范,Semiconductor optoelectronic devices,Detail specification for type,GD3251Y photodiodes,1996.08丒30发布1997-01-01 实施,中华人民共和国电子工业部批准,中华人民共和国电子行业军用标准,半导体光电子器件,GD3251Y型光电二极管详细规范 SJ 50033/112-96,Semiconductor optoelectronic devices,Detail specification for,type GD3251Y photodiodes,1范E,1.1 主题内容,本规范规定了 GD 3251Y型光电二极管(以下简称器件)的详细要求,1.2 适用范围,本规范适用于器件的研制、生产和采购,1.3 分类,1.3.1 器件等级,本规范所提供的器件保证等级按GJB 33《半导体分立器件总规范》的规定,从低到高分为,普军级(GP)和特军级(GT)两级,2引用文件,GB 11499-89,GJB 33 - 85,GJB 128-86,GJB 597 - 88,SJ 2354 - 83,SJ/Z 9014.2-87,半导体分立器件文字符号,半导体分立器件总规范,半导体分立器件试验方法,微电路总规范,PIN、雪崩光电二极管测试方法,半导体器件 分立器件和集成电路第5部分 光电子器件,3要求,3.1 详细要求,各条要求应符合GJB 33和本规范的规定,3.2 设计、结构和外形尺寸,器件的设计、结构和外形尺寸应符合GJB 33和本规范的规定,芯片结构为PIN,也可按合,同的要求提供不同于图1规定的外形尺寸(见6.2条),中华人民共和国电子工业部1996-08-30发布1397-01-01 实施,1,SJ 50033/112-96,mm,尺寸符号最小值最大值,D 15.0 15.4,D1 13.8 14.2,D2 10.6 11.4,D3 0.4 0.6,e 2.4 2.6,h 3.8 4.4,hl 0.6 0.8,L 12.7 15.0,el 9.8 10.2,b 0.8 1.2,1 0.8 1.2,e 44° 45°,图1外形尺寸,3.2.1 器件芯片材料,芯片材料为硅,3.2.2 引出端排列,管脚1、4 2、5 3、6,接线正 极负 极空 脚,3.2.3 封装形式,全密封金属管壳平面玻璃窗口 〇,3.2.4 引线长度,可按合同的要求（见6.2条）提供引线长度不同于图1规定的器件,3.3 引线材料及涂层,引线材料为可伐合金,引线涂层应镀金。也可按合同要求（见6.2条）选择涂层,3.4 最大额定值和主要光电特性,3.4.1 最大额定值,__ ク,丁丄 amb,匕匕匕,ム,mA,Vr,V,丄p tot,mW,一 45 .85 一 55.100 260 10 25 20,SJ 50033/112-96,注:1）最长焊接时间不超过5s,至管壳的最短距离5mm,3.4.2 主要光电特性（7\mb = 25C）,特 性符号条 件,极限值,单位,最小最大,暗电流^R(D) Ee = 0, VR = 15 V 0.10 /iA,高温下的暗电流^R(D) = 0, Vr= 15V, 7皿1b = 85匕30.0 uA fRJ UUL 1 M 4 "ロ P* VlU r,灵敏度s Ee = 5/i W/mm2 VR=15V,A =0.90/1 m,0.45 rA//iW,峰值响应波长A p Ee = 5/x W/mm2 Vr=15V 0.92 0.95,光谱响应波长范围ス l~^h Ee = 5/x W/mm2 VR=15V,最短和最长波长下的灵敏度至少,应为峰值响应波长灵敏度的1/10,0.40 1.10 /zm,噪声等效功率NEP Ee=5^iW/mm2 Vr=15V,A = 0.90/la m f- 1kHz,△ /=lHz,4X 10-13 W-Hz~1/2,上升时间11 Ec= ImW/mm2 VR=15V,A = 0 . 90 戸 m,15 ns,下降时间h KL = 50a 20 ns,总电容Got Ur= 15V./= 1MHz 40 pF,反向击穿电压Vbr fR= 100/iA 60 V,光敏元直径ム6（标称值） mm,3.5 标志,器件的标志符合GJB 33的规定,4质量保证规定,4.!抽样和检验,抽样和检验应按GJB 33和本规范的规定,4.1.1 表2Al分组进行检验和试验的器件可以用于A2分组的检验和试验,A2分组进行检,验和试验的器件可以用于A3、A4和A7分组的检验和试验;通过A组各分组检验和试验的器,件,可以作为检验和试验抽样的母体,鉴定试验总样品量（指通过A组检验批的数量）至少应,等于抽样数的L5倍,抽样表可以采用GJB 597中的小数量抽样表,4.1.2 表3B1分组、B4分组的检验和试验可以采用光电特性不符合3.4.2条要求的器件,4.1.3 按表4cl分组进行检验的器件可以用于表4c2分组的检验和试验,4.2 筛选（仅对GT级）,GT级器件应按GJB 33和本规范表1中规定的步骤和条件进行百分之百的筛选试验,并,按GJB 33的有关规定处理,3,SJ 50033/112-96,4.3 鉴定检验,鉴定检验应符合GJB 33和本规范表2、表3和表4的规定,4.4 质量一致性检验,质量一致性检验应包括A组、B组和C组中规定……
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